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DIN 58948 T.1-1988 消毒.气体消毒器;概念

作者:标准资料网 时间:2024-05-06 06:18:19  浏览:8770   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Sterilization;gassterilizers;terminology
【原文标准名称】:消毒.气体消毒器;概念
【标准号】:DIN58948T.1-1988
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


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基本信息
标准名称:车内挥发性有机物和醛酮类物质采样测定方法
英文名称:Determination of Volatile Organic Compounds and Carbonyl Compounds in Cabin of Vehicles
中标分类: 环境保护 >> 环境保护采样、分析测试方法 >> 气体介质与放射性物质采样
ICS分类: 环保、保健与安全 >> 空气质量 >> 工作场所空气
发布部门:中华人民共和国环境保护部
发布日期:2007-12-07
实施日期:2008-03-01
首发日期:
作废日期:
提出单位:国家环境保护总局科技标准司
起草单位:中国兵器装备集团公司、北京市劳动保护科学研究所等
出版社:中国环境科学出版社
出版日期:2008-03-01
页数:23页
书号:1380206.156
适用范围

本标准规定了测量机动车乘员舱内挥发性有机物和醛酮类物质的采样点设置、采样环境条件技术要求、采样方法和设备、相应的测量方法和设备、数据处理、质量保证等内容。
本标准适用于车辆静止状态下,车内挥发性有机物和醛酮类物质的采样与测量。

前言

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引用标准

GB/T 15089 机动车辆及挂车分类

所属分类: 环境保护 环境保护采样 分析测试方法 气体介质与放射性物质采样 环保 保健与安全 空气质量 工作场所空气
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part38:Softerrortestmethodforsemiconductordeviceswithmemory
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.带存储器的半导体器件用软错误试验法
【标准号】:BSEN60749-38-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2008-06-30
【实施或试行日期】:2008-06-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速的;α辐射;气候试验;部件;损伤;缺陷;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;集成电路;干扰;测量;机械测试;电力电子学;半导体器件;半导体;测试;测试条件
【英文主题词】:Accelerated;Alpharadiation;Climatictests;Components;Damage;Defects;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Interferences;Measurement;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Testingconditions
【摘要】:ThispartofIEC60749establishesaprocedureformeasuringthesofterrorsusceptibilityofsemiconductordeviceswithmemorywhensubjectedtoenergeticparticlessuchasalpharadiation.Twotestsaredescribed;anacceleratedtestusinganalpharadiationsourceandan(unaccelerated)real-timesystemtestwhereanyerrorsaregeneratedunderconditionsofnaturallyoccurringradiationwhichcanbealphaorotherradiationsuchasneutron.Tocompletelycharacterizethesofterrorcapabilityofanintegratedcircuitwithmemory,thedevicemustbetestedforbroadhighenergyspectrumandthermalneutronsusingadditionaltestmethods.Thistestmethodmaybeappliedtoanytypeofintegratedcircuitwithmemorydevice.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:英语



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